思奉工业供应Fischer(Helmut Fischer)的产品
德国Helmut Fischer 集团自豪地回顾其 1953 年在斯图加特开始的近 70 年成功的公司历史。自 1953 年以来一直在开发用于无损材料分析、涂层厚度测量和材料测试的仪器。Fischer 为不同行业提供范围广泛的测量设备:从简单的手持设备在旅途中快速测试完全集成的高端系统,自动监控您的生产。
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品牌概况
Helmut Fischer 自 1953 年以来的企业目标。在涂层厚度测量、材料分析、纳米压痕和划痕测试领域开发精确定制的智能测量解决方案。产品组合多种多样:从用于腐蚀防护的快速涂层厚度测量的手持设备,到用于金测试的XRF 光谱仪,或电镀中的 XRF 分析,再到电子行业中完全集成的高端系统。
在处理大测量距离或非常小的测量点以进行简单的涂层厚度测量时,比例计数检测器可提供测量性能。对于要求更高的涂层厚度测量和简单的材料分析,硅 PIN 二极管是正确的选择。硅漂移探测器 (SDD) 可用于测量纳米范围内的层厚度和复杂的多层任务,以及精确分析材料的元素组成。
依靠近 30 年开发和制造用于塑造 X 射线的高精度毛细管光学器件的专业知识。只有有了这些组件,才有可能将激发光束聚焦在一个非常小的测量点 (10 µm) 上,从而测量小的组件和微结构。作为全球仅有的两家制造商之一,创新和高的测量精度。
Fischer 主要产品
手持式涂层测厚仪 | X 射线 XRF 荧光 | COULOSCOPE 和 MMS 台式仪器 | 纳米压痕和划痕测试 |
FISCHER SCOPE X-RAY 是无损、非接触式涂层厚度测量和材料分析的选择。自 1983 年以来,我们的 XRF 仪器已成为几乎所有主要行业的质量测试不可或缺的一部分。我们的仪器以其精密、准确和耐用而闻名。同时,FISCHER SCOPE X-RAY 设计为用户友好型,可在测量的各个方面为您提供支持。这使您能够专注于手头的质量工作,而不是测量仪器。
FISCHER 的 XRF 配有 Fischer WinFTM 软件,该软件旨在促进测量过程。这包括控制 X 射线、实现测量的可追溯性、生成个性化测量报告以及与内部网络连接。FISCHER XRF 系列旨在以高可靠性测量不同的应用。世界各地的电子、电镀、汽车、黄金和珠宝等领域的公司都依赖 FISCHERSCOPE X 射线进行质量控制。查看我们的 XRF 仪器,立即了解原因!
这对于 Fischer 涂层测厚仪也是可行的:双涂层,即油漆和锌涂层的组合,具有使用寿命长的特点——这就是它们在防腐蚀和汽车制造中非常受欢迎的原因。 DUALSCOPE 涂层测厚仪使用特殊的双工探头以及PHASCOPE PMP10 DUPLEX来解决这些测量任务:使用这些涂层测厚仪,可以在单个测量过程中测量此类涂层。或者受益于我们的涂层测厚仪FMP100 和 H FMP150的磁性方法应用。您可以使用该量规测量磁性涂层,例如非磁性金属或塑料上的镍。